Wer
wir
sind
Wer wir sind
Seit 1976 erfindet, entwickelt und produziert SPEA automatische Testsysteme für Halbleiter-ICs, MEMS und Elektronikbaugruppen.
Mit unseren Systemen leisten wir einen Beitrag zu Ihrem Erfolg und bieten Ihnen optimale Lösungen zum effizienten Test Ihrer Komponenten.
Mit unseren Systemen leisten wir einen Beitrag zu Ihrem Erfolg und bieten Ihnen optimale Lösungen zum effizienten Test Ihrer Komponenten.
In-Circuit-Tests: Erkennen von Defekten an elektronischen Leiterplatten
In-Circuit-Tests (ICT test) werden zur Überprüfung der Leistung und Integrität von elektronischen Leiterplatten eingesetzt.
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Künstliche Intelligenz für die automatische Defekterkennung
Künstliche Intelligenz in kombination mit automatischen Tests ist eine schlüsseltechnologie, um qualitativ hochwertigere Produkte anzubieten.
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KGD-Tests: Qualitätssicherung in der Halbleiterfertigung
Der KGD-Test verbessert die Qualität und Zuverlässigkeit in der Produktion von Leistungshalbleitern, wie zum Beispiel Siliziumkarbid (SiC).
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