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Desde 1976, SPEA inventa, diseña y fabrica el mejor equipo de prueba automático para IC de semiconductores, MEMS, placas electrónicas y módulos. Con los equipos de SPEA, los fabricantes de semiconductores y electrónica pueden garantizar, día tras día, la calidad y fiabilidad de sus productos.
Pruebas In-Circuit: detectar defectos en una placa electrónica
Los ensayos en circuito (ICT test) se utilizan para verificar el rendimiento y la integridad de las placas de circuito impreso electrónicas.
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Inteligencia artificial para la detección automática de defectos
La inteligencia artificial combinada con las pruebas automáticas es una tecnología clave para detectar defectos y ofrecer productos de mayor calidad.
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Pruebas KGD: Calidad en la Fabricación de Semiconductores
La prueba KGD mejora la calidad y la confiabilidad en la producción de semiconductores de potencia, como los de carburo de silicio (SiC).
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