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GS-EM系列 边缘测量传感器
5.5μm分辨率,4KHz采样频率,适用于外径、宽度、节距等高精度边缘测量;
超薄超小型尺寸,适用于不同应用需求;
优良的平行光束设计,即使发射端、接收端安装距离较远,仍然拥有超高的测量精度;
可设置光量接收阈值,适用于透明物体如玻璃、薄膜等的应用需求;
通过光轴对准指示灯,可轻松完成发射端接收端对准和安装;
高度集成化控制器,可通过面板轻松设置;控制器可同时连接两台纠偏传感器,以测量超宽物体。
CMOS三角测距法,精确的测量精度;
超小体积尺寸,适用于各种安装环境;
配备多样化功能及测量模式,轻松应对多种应用需求;
内置放大器,白色数显及面板设置,使用简易;
坚固金属外壳,防护等级达IP67;
经济款位移传感器,高性价比;
GS-SA系列 激光位移传感器
EA系列 Aligner晶圆校准器
采用微型单轴机器人模组,实现高速、高精度晶圆校准。(晶圆位置≤±0.1mm;晶圆缺边/缺口≤±0.1°)
高效校准,定位晶圆缺口位置只需3sec(不包括晶圆取放时间),可快速完成晶圆中心与角度等补正动作,同时达成定位。
配备高性能光学传感器,可支持透明、半透明与不透明等物件的轮廓侦测功能,适用于直径100-300mm的晶圆及玻璃等。
内嵌式控制器设计,无需额外设置控制器及走线空间,实现超小体积尺寸。
适用于半导体、光电等高洁净度环境,洁净等级达lSO标准Class 2。
配备即时监控功能,可实时检测马达驱控系统、感测系统、真空系统、循环系统等系统状态。
系统提供紧急停止功能,确保使用安全。
可读取半导体行业专用码制(SEMI M12/M13,SEMI T5、OCR、DataMatirx)
适用于不同材料的晶圆(硅晶圆、碳化硅晶圆、蓝宝石晶圆、氮化镓晶圆等)
可轻松应对晶圆字符畸变、字符低对比度以及特殊场景(反光场景、亮光场景、复杂纹路场景)等应用需求
核心算法高效稳定,识别速度可达8000WPH
支持网口通讯和串口通讯
WR系列 晶圆ID读取器
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